还是那句话，看就完事了，数据和处理过程都是现成的，自己可以下载下来一步一步跟着操作，学完之后上手自己的数据，不清楚自己处理的是否合理的可以发在评论区大家一起讨论。

导入K2Cr3O7数据&晶体文件

很明显是O26.1这个path

将这个path拖入data窗口，并输入参数进行guess

通过筛选大概却认为O15.1&Cr2.1&Cr3.1

将路径导入并命名拟合参数及拟合范围

到这里就可以得到配位数N，半径R，无序度σ2当然对Cr2O3的拟合没有那么好，我是懒得再继续操作了，毕竟已经到第三壳层了，XAS数据很少有拟合到这里的，所以我认为是数据的问题不是我的问题，欢迎大佬指导一下。

总结

首先确认一个S02

导入样品数据和cif文件，并计算标准path

与样品R图像比对确认path

导入path并设定参数

拟合

注意事项

：0.7~1.05，与吸收原子有关，所有的配位层都相同，与配位数N配位数N：无序度（Debye-Waller）因子：一般范围为S02与峰强有关！

不能太长，误差≤1%。

0与E0的选取有关，一般范围为-15~15eV。

R-factor（χ2